2016 年 6 月 21 日下午，第四届“ Pearson VUE 中国考试开发专题研讨会”在北京环球贸易中心举行。会议吸引了来自政府部门、行业协会和商业公司等二十多家考试主办方近六十位嘉宾参会。

研讨会现场

本届研讨会的主题为“高效率测验之开发 - 测验模型案例及题库的建立和管理”，特别邀请了来自 Pearson VUE 美国总部的资深心理测量专家吴庆昭博士为嘉宾做了关于当代测验模型及题库建设的关联，以及各类抽题组卷模式等专题演讲。吴博士通过 Pearson VUE 的经典客户案例与在场嘉宾分享实践，并针对企业中一些考试项目存在的问题提供了合理的建议， 受到与会嘉宾的热烈欢迎。Pearson VUE 全球业务发展高级副总裁 Dr. Gary Gates 作为主题演讲嘉宾出席了本次会议并做了电子证徽对认证领域影响的主题演讲。

Pearson VUE 全球业务发展高级副总裁 Dr. Gary Gates 做主题演讲

Pearson VUE 资深心理测量专家吴庆昭博士做专题演讲

这是 Pearson VUE 自 2012 年以来召开的第四次考试专题研讨会。作为全球最大的电子化考试服务商，Pearson VUE 一直非常关注中国考试和测评行业的发展。Pearson VUE 研讨会旨在提供一个考试和测评领域的学术交流平台，把国外最前沿的测评理念、技术和最佳实践分享给中国的考试主办方，其形式与学术深度在业界颇受好评。